在實(shí)際三坐標(biāo)測(cè)量時(shí)，會(huì)發(fā)現(xiàn)有一些測(cè)量上的問(wèn)題，本文就三坐標(biāo)檢測(cè)儀測(cè)定位公差的問(wèn)題進(jìn)行簡(jiǎn)單概述。

定位公差的測(cè)量誤差往往比實(shí)際誤差大，主要原因是對(duì)工件分析不深入，測(cè)頭組件配置不合理，測(cè)量方法不恰當(dāng)。用以下的2種方法可有效解決測(cè)量三坐標(biāo)定位公差問(wèn)題。

如上圖所示，當(dāng)被三坐標(biāo)儀檢測(cè)零件的基準(zhǔn)軸線長(zhǎng)度較長(zhǎng)并且基準(zhǔn)軸線與被測(cè)軸線距離較近時(shí)，如果用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)桿（長(zhǎng)度為20mm）測(cè)量基準(zhǔn)軸線，則第1截面和最后截面的距離肯定小于20 mm，221這樣到被測(cè)軸線時(shí)測(cè)量誤差已經(jīng)放大10倍以上，測(cè)量結(jié)果當(dāng)然難以置信。因此，測(cè)量這類零件時(shí)，應(yīng)加大基準(zhǔn)軸線首尾2個(gè)截面之間的距離，由此減小由于基準(zhǔn)軸線偏離而引起的誤差。實(shí)際操作中，首先選用適當(dāng)?shù)募娱L(zhǎng)桿使之測(cè)量長(zhǎng)度足夠大，其次選用三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x合適的測(cè)頭組件，如大的測(cè)球或星形測(cè)頭，以便在測(cè)量過(guò)程中測(cè)桿與工件不發(fā)生干涉。

還會(huì)有第二種情況，當(dāng)基準(zhǔn)軸線與被測(cè)軸線較短并且距離較遠(yuǎn)時(shí)，如果用通常的方法評(píng)價(jià)定位公差，即將測(cè)量的基準(zhǔn)軸線延長(zhǎng)至被測(cè)軸線處，再計(jì)算出被測(cè)軸線與基準(zhǔn)軸線的最大距離的2倍得到定位公差誤差，這樣的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量結(jié)果誤差往往很大，并且不符合實(shí)際情況。在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用先建立公共軸線再評(píng)價(jià)定位公差的方法。具體方法:先在基準(zhǔn)軸線上取2個(gè)截面,再在被測(cè)軸線上取2個(gè)截面,用4個(gè)截面的圓心點(diǎn)來(lái)構(gòu)造一條公共軸線,然后分別計(jì)算基準(zhǔn)軸線和被測(cè)軸線對(duì)公共軸線的定位公差,取最大值作為定位公差誤差。

在使用三坐標(biāo)、龍門式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x除了定位公差問(wèn)題外，有時(shí)候我們也會(huì)發(fā)現(xiàn)深孔圓柱度測(cè)量不準(zhǔn)。很多深孔圓柱度的測(cè)量結(jié)果較實(shí)際值偏小,把不合格品計(jì)為合格。其原因主要是三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)頭組件配置過(guò)短,測(cè)量深度不夠,以至不能發(fā)現(xiàn)圓孔錐度問(wèn)題。為此，我們可以用三個(gè)步驟來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題，首先先給測(cè)頭配上適當(dāng)?shù)募娱L(zhǎng)桿,使其能夠到達(dá)深孔底部，緊接著將標(biāo)準(zhǔn)的球形測(cè)桿換成星形測(cè)頭或盤形測(cè)頭,使其在測(cè)量過(guò)程中不至于發(fā)生誤觸發(fā)，最后設(shè)置好三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探測(cè)距離和回退距離等參數(shù),使其在測(cè)量直徑較小的孔時(shí)不至于撞上圓柱側(cè)壁。